多层瓷介电容器高加速寿命试验与失效分析OA
本文开展多层瓷介电容器温度应力与电压应力的高加速寿命试验与失效分析,首先对不同介质厚度的电容器开展击穿电压试验,得到各介质厚度对应的击穿电压。选取某型号电容器开展温度和电压加速试验,根据击穿电压和电容器特性设置试验电压和温度,基于试验结果和P-V模型,得到该型号电容器的P-V寿命预测模型,并计算得到其在常规工作温度(85℃)、满额条件下(50 V)的等效寿命为6.65×10^(4)年。对试验样品进行失效分析发现,多层陶瓷电容器击穿电压试验中的失效模式为电击穿微裂纹拓展,而加速寿命试验的主要失效模式包括电击穿微裂纹拓展和热击穿烧毁。
季航;李昆伦;门柯润;艾凯旋;张玉兴;范鑫;何志刚
中国工程物理研究院计量测试中心,四川绵阳621000中国工程物理研究院计量测试中心,四川绵阳621000中国工程物理研究院计量测试中心,四川绵阳621000中国工程物理研究院计量测试中心,四川绵阳621000中国工程物理研究院计量测试中心,四川绵阳621000中国工程物理研究院计量测试中心,四川绵阳621000中国工程物理研究院计量测试中心,四川绵阳621000
通用工业技术
多层瓷介电容器高加速寿命试验击穿电压P-V模型
《电子元件与材料》 2026 (7)
P.861-865,5
评论