首页|期刊导航|理化检验(物理分册)|某同轴开关通断异常原因

某同轴开关通断异常原因OA

中文摘要

某同轴开关在服役过程中出现通断异常现象。采用光学显微镜、扫描电子显微镜、能谱仪及纳米压痕仪对其异常原因进行分析,并通过振动试验验证异常的产生机制。将该开关拆解后发现,动触片电接触区域的镀金层发生脱落,且脱落镀层黏连至触头表面。结果表明:异常动触片与良品动触片金镀层的结合力及力学性能无明显差异,但异常品金镀层厚度较良品厚1.9μm;动触片与触头的金镀层之间发生冶金结合,导致动触片异常分离,进而造成开关功能异常;随着表面镀金层厚度的增加,冶金结合现象越易发生,当金镀层厚度大于7.0μm时,冶金结合现象极易发生。

左新浪;任小良;杨钊;朱刚;李子阳

工业和信息化部电子第五研究所,广州511370西安空间无线电技术研究所,西安710100西安空间无线电技术研究所,西安710100工业和信息化部电子第五研究所,广州511370工业和信息化部电子第五研究所,广州511370

信息技术与安全科学

金镀层冶金结合界面分离电接触

《理化检验(物理分册)》 2026 (7)

P.64-67,86,5

10.11973/1hjy-wl260021

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