基于GB/T 25121—2018的DC-Link电容器充放电性能测试OA

根据试验标准GB/T 25121—2018耐久性试验要求,DC-Link电容器需要在试验环境温度70℃下,对电容器施加1.4 U_(N),持续时间为500 h,并经受1 000次1.4倍最大峰值电流的冲击,试验后容量衰减不得超过3%。经分析,电容器在不同的充放电回路中,容量衰减差异比较大,特别在LC回路中,容量衰减较大,RC回路中容量衰减最小。通过搭建不同的充放电回路,分析了电容器1 000次充放电后容量衰减的原因,主要表现为薄膜表面出现较多的自愈点,且薄膜加厚边与另一层薄膜的留边处有较多的熔断处;设计LC放电回路、RC放电回路、RLC放电回路进行试验验证。经测试,电容器经过LC放电回路1 000次放电后,容量衰减约6.68%;电容器经过RC放电回路1 000次放电后,容量衰减约0.1%。在薄膜加厚区的边缘增加加厚区,经LC、RC、RLC放电回路测试发现,容量的衰减均有明显的减小。通过本次研究与测试,为提升电容器耐受充放电能力和检验电容器质量提供了方法和途径。