基于红外热波检测的瓷绝缘子裂纹缺陷成像增强方法OA

为了消除瓷绝缘子裂纹对设备稳定运行的威胁,提出了基于红外热波检测的裂纹缺陷成像增强方法。然而,瓷绝缘子表面的低发射率限制了红外热波的检测效果。针对这一问题,从后处理算法和表面涂覆涂层两个方面对缺陷成像效果进行增强。对未涂覆室温硫化(room temperature vulcanized,RTV)硅橡胶涂层的瓷绝缘子的表面裂纹进行分析,发现表面釉层会在瓷绝缘子伞裙边缘产生“高温”区域,导致裂纹缺陷的成像效果不理想。采用一阶微分处理后的特征成像能消除了非缺陷异常温度区域的影响,增强裂纹缺陷的成像效果。对涂覆RTV硅橡胶涂层的瓷绝缘子表面裂纹缺陷开展检测发现,涂覆RTV硅橡胶涂层提高了表面发射率,消除了加性噪声,裂纹缺陷的成像效果得到了显著增强。研究表明,结合一阶微分与特征成像的后处理方法,能够显著提升红外热波检测瓷绝缘子裂纹缺陷的成像效果。此外,瓷绝缘子表面若涂覆RTV硅橡胶涂层,也能增强缺陷成像显示。