高温作用下GIS位移引起的SF_(6)泄漏分析OA

针对高温期间某地多次发生的气体绝缘全封闭式组合电器(gas insulated switchgear,GIS)电流互感器环氧树脂类接线盘开裂致SF_(6)泄漏问题,本文以一起互感器接线盘开裂故障为例,分析了持续高温过程中GIS壳体位移演变过程。通过宏观检查、间距测量,CT扫描、密度测量、比热分析等技术手段结合装配平整度、持续高温和材料特性等影响因素多角度探讨了事故成因。综合试验结果分析接线盘本体质量无异常。失效形式为裂纹在弯曲应力作用下由紧固压紧后受力最为复杂的上侧偏左位置向下对称扩展。故障主因系接线盒内接线盘安装后不平整,使其长期受剪切应力作用,且持续高温导致GIS壳体发生轴向位移与端部转角,升温过程中,位移力向接线盒外护壳体顶部汇聚,致使压力过大,发生了明显的应力集中;此外,户外高温环境破坏了环氧树脂分子链的聚合速率,脆性缓慢增加,当局部应力超过其许用应力时,最终诱发贯穿性裂纹。