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面向高精度分析的矿物检测方法进展综述OA

中文摘要

传统矿物检测方法存在操作复杂、耗时长、精度有限等局限性,难以满足现代工业生产对高精度检测的需求;本文综述了矿物检测方法的发展背景与现状,重点探讨了X射线衍射技术在矿物检测中的应用进展。介绍X射线衍射Rietveld全谱拟合法定量检测滑石混合矿物中滑石含量的方法,展示了此类方法在矿物物相定量分析中的优势与可行性。研究结果表明,此方法具有操作简单、检测速度快、精度高等优点,可满足矿物出口监管等实际需求。本文还展望了矿物检测技术的发展趋势与挑战,强调了多技术融合、绿色环保理念在矿物检测技术中的重要性。

宋晋;石东

四川省第八地质大队,四川西昌615000四川省第八地质大队,四川西昌615000

天文与地球科学

矿物检测X射线衍射Rietveld全谱拟合高精度分析

《世界有色金属》 2026 (11)

P.217-219,3

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