片式厚膜电阻器和电阻排失效分析方法和案例OA
对片式厚膜电阻器和电阻排失效分析案例进行了总结,失效模式主要表现为开路和电阻阻值变化,通过实际案例介绍了导致开路和阻值变化的8种原因。采用光学显微镜、扫描电子显微镜和能谱分析仪等测试方法,从失效现象到具体分析过程对厚膜电阻器的分析方法进行分类整理。总结出在该类产品的失效分析过程中基本的分析顺序是由外至内。
代超;霍向东;蒲晓娟;孙静;王全
航天材料及工艺研究所,北京100076航天材料及工艺研究所,北京100076航天材料及工艺研究所,北京100076航天材料及工艺研究所,北京100076航天材料及工艺研究所,北京100076
信息技术与安全科学
厚膜电阻器失效分析案例
《宇航材料工艺》 2026 (2)
P.145-149,5
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