辐射环境中纳米器件栅介质可靠性评估方法OA

纳米器件已在航天器中大规模应用,虽具备较强本征抗总剂量能力,但其常规可靠性寿命与大尺寸器件相比有所降低。在空间高可靠、长寿命应用中需厘清常规可靠性与总剂量效应是否存在相互耦合,避免器件寿命远低于预期设计值。针对这一问题,自主研制了一款专用的环形振荡器,开展了总剂量效应、电应力效应试验,并分析了两者的相互影响,发现电应力过程中感生的产物加速了辐射感生产物的生长过程,导致总剂量效应更严重。在此基础上,探索提出了一种超薄栅介质器件在辐射环境下的寿命预测方法,预估给出了环形振荡器的在轨寿命上限及下限。结果表明,只考虑总剂量效应时,器件的寿命可以大于30 a,但综合两者退化的情况时,寿命下限仅为3.05 a。