高压下XSi_(2)Y_(4)(X=V,Mo,W;Y=N,As)结构和性质的第一性原理研究OA

近些年来,XSi_(2)Y_(4)(X=V,Mo,W;Y=N,As)家族作为一种新型的二维范德华材料受到广泛关注,本论文运用基于密度泛函理论的第一性原理计算方法,系统地研究了六种XSi_(2)Y_(4)三元合金在高压条件下的结构稳定性、力学性质以及电子结构,研究结果显示高压下XSi_(2)Y_(4)材料的综合力学性能比低压下XSi_(2)Y_(4)材料更优,在轴向和剪切方向以及硬度方面都有更高的刚性和稳定性,在电学性质方面,压力升高改变了材料的电学性能,使材料从低压时的半导体性质转变为高压下的半金属或金属态.该研究指出XSi_(2)Y_(4)作为新型多功能二维材料在高强度纳米电子器件、超硬涂层和光电器件中的应用潜力,研究结果为理解XSi_(2)Y_(4)材料的高压行为以及设计三维母体的二维材料体系有理论指导意义.