用电子冷却存储环(CSR)提供的能量为165 MeV/u的高能C6+脉冲束分别与Ti、V、Fe、Ni和Zn靶表面相互作用,测量了各靶辐射的K壳层X射线.结果 表明,实验探测到各靶的Kβ和Kα X射线均向高能区发生了不同程度的移动.经分析,X射线发生频移是由靶原子外壳层发生多电离引起的.通过计算各靶K壳层X射线的产生截面,发现该截面随原子序数的增加而减小.将各靶K-X射线产生截面的实验值分别与两体碰撞近似、平面波恩近似和ECPSSR理论值比较,发现现有理论与实验值存在偏差,要准确描述实验结果需要进一步修正.
梅策香;张小安;周贤明;曾利霞;梁昌慧
咸阳师范学院与中国科学院近代物理研究所联合共建离子束与光物理实验室,咸阳712000西北工业大学超常条件材料物理与化学教育部重点实验室,西安710049中国科学院近代物理研究所,兰州730000
数理科学
高能脉冲束;频移;产生截面;X射线
《原子与分子物理学报》 2022 (003)
80-85 / 6
国家自然科学基金(11605147,11505248);超常条件材料物理与化学教育部重点实验室开放课题资助项目(MPCEC201901);中央高校基本科研业务费(310201911fz046);咸阳师范学院"青蓝人才"培养项目(XSYQL201910);咸阳师范学院教育教学改革研究项目(2017Z006);咸阳师范学院专项科研基金项目(XSYK19043、XSYK19042);陕西省教育厅专项科研计划(20JK0975);陕西省科技厅自然科学基础研究计划(2021JQ-812)
10.19855/j.1000-0364.2022.033001
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