在1 500℃条件下,通过掺杂质量分数为O、0.6％及1.5％的MgO制备了T1、T3及M3型硅酸三钙(C3S).使用不同分辨率的X射线衍射仪对样品进行分析.结果表明:不同晶型的C3S指纹区X射线粉末衍射特征峰存在明显差异,衍射峰的不同可以用于判定C3S晶型;当X射线衍射仪分辨率较低(仪器半高宽≥0.129°)且存在K 2时,得到的C3S衍射峰特征不明显,存在重叠现象,无法判定C3S晶型;使用高分辨率衍射仪(仪器半高宽≤0.072°),无K 2影响下,得到的衍射峰清晰,可以对C3S晶型进行精确判定.
王少鹏;黎学润;何杰;潘志刚;沈晓冬
南京工业大学材料科学与工程学院,材料化学工程国家重点实验室,南京210009
化学工程
硅酸三钙;多晶型;X射线衍射;分辨率;特征衍射峰
tricalcium silicate;polymorphism;X-ray diffraction;resolution;characteristic pattern
《硅酸盐学报》 2014 (002)
178-183 / 6
国家“973”计划(2009CB623100);江苏高校优势学科建设工程(PAPD);长江学者和创新团队发展计划(IRT1146)资助项目.
10.7521/j.issn.0454-5648.2014.02.7
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